Amptek探测器类型
FAST SDD®： 这是 Amptek 性能最高的探测器。对于需要最佳性能的用户，建议使用 FAST SDD®。它可以提供最佳的能量分辨率（在 5.895 keV 时低至 122 eV FWHM），可以测量最低能量 X 射线（在 52 eV 时低至 Li Ka 线），具有最佳的峰背比，可以以最高的计数率（> 1 Mcps）运行，并可提供最大面积（最大 70 mm2）。FAST SDD® 被广泛用于最严苛的 XRF 应用、EDS 和 SEMS/TEM、同步加速器和其他研究系统中。
SDD： 推荐需要中等能量分辨率和计数率的用户使用。SDD 的典型分辨率为 125 eV，计数率通常为 200 kcps。它被广泛用于许多便携式 XRF 应用。
Si-PIN：建议用于需要中等能量分辨率和计数率且预算不高的应用。Si-PIN 器件具有传统的平面结构，电子噪声比 SDD 更大，但更易于制造。目前有三种不同的 Si-PIN 型号，面积分别为 6 mm2、13 mm2 和 25 mm2。6 mm2 探测器可以高达 50k cps 的计数率在 5.9 keV Mn Ka 线处提供 140 eV FWHM 的能量分辨率。13 mm2 和 25 mm2 探测器在相同的计数率下可提供典型的能量分辨率为 180 和 210 eV 。
CdTe：推荐用于 20-30 keV 以上的应用。CdTe 的阻止本领比 Si 高得多，可以制造得更厚，因此对所有特征 X 射线（甚至到 U 的 K 线）都具有高效率。CdTe 的电子噪声比任何一个 Si 探测器都要差（5.9 keV Mn Ka 线处的分辨率通常为 450 eV FWHM），这使 Si 探测器成为低于 20 keV 能量应用的更好选择。但是，在 20 至 30 keV 以上，分辨率主要由 Fano 展宽决定，因此差异变小，特征 X 射线间距更宽，Si 探测器的效率下降，这使 CdTe 成为更好的选择。CdTe 探测器非常适合测量 X 射线管的频谱，适用于效率非常重要而能量分辨率不那么重要的应用。CdTe 也是伽马射线应用的最佳选择。
