为满足扫描电子显微镜（SEMs）中的能量色散谱（EDS）推出了一款改进的硅漂移探测器（SDD）。使用我们专有的专利“C 系列”氮化硅（Si3N4）X 射线窗口，我们 FAST SDD® 的低能量响应可扩展到铍（Be）。具有高固有效率的 FAST SDD® 是 EDS 的理想选择，EDS 也被称为能量色散 X 射线光谱测量（EDX 或 XEDS）和能量色散 X 射线分析（EDXA）或能量色散 X 射线显微分析（EDXMA）。
系统包括：
FAST SDD® ：25 mm2 或 70 mm2
带数字脉冲处理器和所有电源的 X-123 封装
真空延长管：5 或 9 英寸
真空法兰
图 1.带 C2 窗口、真空延长管和馈通接头的 X-123 FAST SDD® 光谱仪。
图 2.配备 C2 窗口的新型 Fast SDD® 探测器的铍（Be）和碳（C）谱图。
透射 | |
|---|---|
| Li | 29% |
| Be | 13% |
| B | 19.7% |
| C | 43.9% |
| N | 59.2% |
| O | 62% |
| F | 69% |
| Ne | 72.9% |
| Na | 75.1% |
| Mg | 77.3% |
| Al | 80.3% |
| Si | 81.8% |
图 3.C2 窗口与聚合物窗口。
图 4.FAST SDD® 55Fe 谱图。
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FAST SDD®2适用于 70 mm
Amptek 专利“C 系列”X 射线窗口通过采用氮化硅（Si3N4）和铝涂层，将硅漂移探测器（SDD）的低能量响应扩展到了硼（B）；它们只被用在我们的 FastSDD® 上。
Amptek 在推出第一款热电制冷探测器的同时也推出了一种液氮的替代物。现在，通过专利“C 系列”，我们为常规 XRF 分析提供了一种替代铍（Be）窗口的产品，与软 X 射线分析的聚合物窗口相比，它具有更高的性能。
C1 窗口：实验室、台式和手持式仪器。 此窗口不透光，因此可以在普通的室内光线下使用。
C2 窗口：真空应用和扫描电子显微镜（SEM）中的 EDS（EDX）。 C2 窗口在最低能量下效率更高，但是会透光，因此必须在黑暗环境中使用。
Amptek 低能量专利“C 系列”X 射线窗口
该图显示了 NICER X 射线定时仪器上的 Amptek FAST SDD®，其中 C2 窗口在安装遮光罩之前安装在焦平面上。鸣谢：NASA/Keith Gendreau
Amptek 专利“C 系列”X 射线窗口通过采用氮化硅（Si3N4）和铝涂层，将硅漂移探测器（SDD）的低能量响应扩展到了硼（B）；它们只被用在我们的 FastSDD® 上。
Amptek 在推出第一款热电制冷探测器的同时也推出了一种液氮的替代物。现在，通过专利“C 系列”，我们为常规 XRF 分析提供了一种替代铍（Be）窗口的产品，与软 X 射线分析的聚合物窗口相比，它具有更高的性能。
C1 窗口：实验室、台式和手持式仪器。 此窗口不透光，因此可以在普通的室内光线下使用。
C2 窗口：真空应用和扫描电子显微镜（SEM）中的 EDS（EDX）。 C2 窗口在最低能量下效率更高，但是会透光，因此必须在黑暗环境中使用。
Amptek 低能量专利“C 系列”X 射线窗口
该图显示了 NICER X 射线定时仪器上的 Amptek FAST SDD®，其中 C2 窗口在安装遮光罩之前安装在焦平面上。鸣谢：NASA/Keith Gendreau
Amptek 专利“C 系列”X 射线窗口通过采用氮化硅（Si3N4）和铝涂层，将硅漂移探测器（SDD）的低能量响应扩展到了硼（B）；它们只被用在我们的 FastSDD® 上。
Amptek 在推出第一款热电制冷探测器的同时也推出了一种液氮的替代物。现在，通过专利“C 系列”，我们为常规 XRF 分析提供了一种替代铍（Be）窗口的产品，与软 X 射线分析的聚合物窗口相比，它具有更高的性能。
C1 窗口：实验室、台式和手持式仪器。 此窗口不透光，因此可以在普通的室内光线下使用。
C2 窗口：真空应用和扫描电子显微镜（SEM）中的 EDS（EDX）。 C2 窗口在最低能量下效率更高，但是会透光，因此必须在黑暗环境中使用。
Amptek 低能量专利“C 系列”X 射线窗口
该图显示了 NICER X 射线定时仪器上的 Amptek FAST SDD®，其中 C2 窗口在安装遮光罩之前安装在焦平面上。鸣谢：NASA/Keith Gendreau
